平成23年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問23
テクノロジ／ハードウェアLSI の故障メカニズムの一つである ESD（Electrostatic Discharge）破壊の説明として，適切なものはどれか。
出典：平成23年度 秋期 応用情報技術者試験 午前 問23
- ア機械的な力によって，配線が切断されてしまう現象
- イ寄生サイリスタの導通によって，半導体素子が破壊されてしまう現象
- ウ静電気放電によって，半導体素子が破壊されてしまう現象
- エ電流が過度に流れることによって，配線が切断されてしまう現象
正解：ウ
解説
ESD（静電気放電）破壊は，人体や器具に帯電した静電気が放電することで半導体素子の内部が破壊される現象です。
選択肢ごとの解説
- ア誤り。機械的な力による配線切断は物理的損傷の説明で，ESDとは異なります。
- イ誤り。寄生サイリスタの導通による破壊はラッチアップ現象の説明です。
- ウ正しい。静電気放電によって半導体素子が破壊されるのがESD破壊です。
- エ誤り。過電流による配線切断はエレクトロマイグレーションなどの説明で，ESDとは異なります。