IPA過去問ドリル

平成27年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問23

テクノロジ/ハードウェア

半導体製造プロセスが微細化することによって問題となってきたリーク電流の低減手段として,適切なものはどれか。

出典:平成27年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問23

正解:ウ

解説

半導体の微細化に伴い,トランジスタがオフの状態でもわずかに流れるリーク電流(サブスレッショルドリーク電流など)が問題になります。使用していない回路ブロックへの電源供給そのものを止める(パワーゲーティング)ことで,リーク電流を根本的に低減できます。

選択肢ごとの解説

  • 誤り。クロック周波数の制御は動的な消費電力(スイッチング電力)を抑える手段であり,リーク電流の低減には直接寄与しません。
  • 誤り。クロック供給を止めるクロックゲーティングは動的消費電力を抑える手段であり,電源が入ったままのブロックにはリーク電流が流れ続けます。
  • 正しい。使用しないブロックへの電源供給自体を止めるパワーゲーティングによって,リーク電流を低減できます。
  • 誤り。電源電圧の調整は消費電力全体の調整に有効ですが,リーク電流を低減する専用の手段としては電源供給停止ほど効果的ではありません。
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