令和4年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問23
テクノロジ／ハードウェアマイクロプロセッサの耐タンパ性を向上させる手法として，適切なものはどれか。
出典：令和4年度 春期 応用情報技術者試験 午前 問23
- アESD（Electrostatic Discharge）に対する耐性を強化する。
- イチップ検査終了後に検査用パッドを残しておく。
- ウチップ内部を物理的に解析しようとすると，内部回路が破壊されるようにする。
- エ内部メモリの物理アドレスを整然と配置する。
正解：ウ
解説
耐タンパ性とは，内部の情報や回路構成を不正に解析・改ざんされにくくする性質です。チップ内部を物理的に解析しようとすると内部回路が破壊されるようにする仕組みは，解析攻撃への対抗策として耐タンパ性を高めます。
選択肢ごとの解説
- ア誤り。静電気放電への耐性強化は信頼性・耐環境性の向上であり，不正解析への耐性（耐タンパ性）とは異なります。
- イ誤り。検査用パッドを残しておくと，そこから内部信号を観測されて解析の足がかりになるため，耐タンパ性はむしろ低下します。
- ウ正しい。物理的な解析を試みると内部回路が破壊されるようにすることで，内部情報の不正取得を防ぎ，耐タンパ性が向上します。
- エ誤り。物理アドレスを整然と配置すると解析が容易になり，耐タンパ性は低下します。