平成25年度 春期 エンベデッドシステムスペシャリスト試験 午前Ⅱ 問17
テクノロジ/ハードウェア論理回路の出力にハザードが発生する原因として,適切なものはどれか。
出典:平成25年度 春期 エンベデッドシステムスペシャリスト試験 午前Ⅱ 問17
- アインピーダンスの不整合による反射
- イ接点のオン,オフで発生する機械振動
- ウ素子及び配線の遅延時間のばらつき
- エ並行する信号間で起こる静電誘導
正解:ウ
解説
論理回路のハザードは,複数の入力信号が同時に変化する際に,各信号経路(素子や配線)の伝搬遅延時間にばらつきがあることによって,出力が本来の値に落ち着くまでの間に瞬間的に不要なパルス(グリッチ)が生じる現象です。インピーダンス不整合による反射や接点の機械振動,静電誘導は,いずれも別の物理現象であり,論理回路のハザードの直接の原因ではありません。
選択肢ごとの解説
- ア誤り。インピーダンスの不整合による反射は,伝送線路上で信号が反射して波形が乱れる現象であり,論理回路のハザードの原因とは異なります。
- イ誤り。接点のオン,オフで発生する機械振動はチャタリングの原因であり,論理回路内部の遅延時間のばらつきによって生じるハザードとは異なる現象です。
- ウ正しい。素子及び配線の遅延時間のばらつきによって,複数の信号経路の変化タイミングがずれることが,論理回路の出力にハザードが発生する原因です。
- エ誤り。並行する信号間で起こる静電誘導はクロストークの原因であり,論理回路のハザードの直接の原因ではありません。